Anwendungsgebiet
1. Integrierter Hochgeschwindigkeitsschaltkreis
2. Mikrowellengeräte
3. Integrierte Hochtemperaturschaltung
4. Stromversorgungsgeräte
5. Integrierter Schaltkreis mit geringem Stromverbrauch
6. MEMS
7. Integrierte Niederspannungsschaltung
Artikel | Argument | |
Gesamt | Waferdurchmesser | 50/75/100/125/150/200 mm ± 25 um |
Bogen/Kette | <10 um | |
Partikel | 0,3 um<30 Stück | |
Abflachungen/Kerbe | Flach oder Kerbe | |
Kantenausschluss | / | |
Geräteschicht | Geräteschichttyp/Dotierstoff | N-Typ/P-Typ |
Ausrichtung auf Geräteebene | <1-0-0> / <1-1-1> / <1-1-0> | |
Dicke der Geräteschicht | 0,1 ~ 300 um | |
Widerstand der Geräteschicht | 0,001~100.000 Ohm-cm | |
Partikel der Geräteschicht | <30ea@0.3 | |
Geräteschicht TTV | <10 um | |
Finish der Geräteschicht | Poliert | |
KASTEN | Dicke des vergrabenen thermischen Oxids | 50 nm (500 Å) ~ 15 um |
Handle-Ebene | Behandeln Sie den Wafertyp/Dotierstoff | N-Typ/P-Typ |
Behandeln Sie die Waferausrichtung | <1-0-0> / <1-1-1> / <1-1-0> | |
Behandeln Sie den Waferwiderstand | 0,001~100.000 Ohm-cm | |
Behandeln Sie die Waferdicke | >100 um | |
Griff in Wafer-Optik | Poliert | |
SOI-Wafer mit Zielspezifikationen können entsprechend den Kundenanforderungen angepasst werden. |