4″6″ 8″ SiC-Barren vom N-Typ

Kurzbeschreibung:

Die 4″, 6″ und 8″ N-Typ-SiC-Ingots von Semicera sind der Grundstein für Hochleistungs- und Hochfrequenz-Halbleiterbauelemente. Diese Barren bieten hervorragende elektrische Eigenschaften und Wärmeleitfähigkeit und sind so gefertigt, dass sie die Produktion zuverlässiger und effizienter elektronischer Komponenten unterstützen. Vertrauen Sie Semicera für unübertroffene Qualität und Leistung.


Produktdetails

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Die 4-, 6- und 8-Zoll-N-Typ-SiC-Ingots von Semicera stellen einen Durchbruch bei Halbleitermaterialien dar und wurden entwickelt, um den steigenden Anforderungen moderner Elektronik- und Stromversorgungssysteme gerecht zu werden. Diese Ingots bieten eine robuste und stabile Grundlage für verschiedene Halbleiteranwendungen und sorgen für optimale Leistung Leistung und Langlebigkeit.

Unsere N-Typ-SiC-Ingots werden mithilfe fortschrittlicher Herstellungsverfahren hergestellt, die ihre elektrische Leitfähigkeit und thermische Stabilität verbessern. Dies macht sie ideal für Hochleistungs- und Hochfrequenzanwendungen wie Wechselrichter, Transistoren und andere leistungselektronische Geräte, bei denen Effizienz und Zuverlässigkeit von größter Bedeutung sind.

Die präzise Dotierung dieser Barren stellt sicher, dass sie eine konstante und wiederholbare Leistung bieten. Diese Konsistenz ist von entscheidender Bedeutung für Entwickler und Hersteller, die die Grenzen der Technologie in Bereichen wie Luft- und Raumfahrt, Automobil und Telekommunikation verschieben. Die SiC-Ingots von Semicera ermöglichen die Herstellung von Geräten, die unter extremen Bedingungen effizient arbeiten.

Wenn Sie sich für N-Typ-SiC-Ingots von Semicera entscheiden, müssen Sie Materialien integrieren, die hohen Temperaturen und hohen elektrischen Belastungen problemlos standhalten. Diese Barren eignen sich besonders für die Herstellung von Komponenten, die ein hervorragendes Wärmemanagement und Hochfrequenzbetrieb erfordern, wie z. B. HF-Verstärker und Leistungsmodule.

Wenn Sie sich für die 4-Zoll-, 6-Zoll- und 8-Zoll-N-Typ-SiC-Ingots von Semicera entscheiden, investieren Sie in ein Produkt, das außergewöhnliche Materialeigenschaften mit der Präzision und Zuverlässigkeit kombiniert, die von modernsten Halbleitertechnologien gefordert werden. Semicera ist weiterhin führend in der Branche Bereitstellung innovativer Lösungen, die den Fortschritt in der Herstellung elektronischer Geräte vorantreiben.

Artikel

Produktion

Forschung

Dummy

Kristallparameter

Polytypie

4H

Fehler bei der Oberflächenausrichtung

<11-20 >4±0,15°

Elektrische Parameter

Dotierstoff

Stickstoff vom n-Typ

Widerstand

0,015–0,025 Ohm·cm

Mechanische Parameter

Durchmesser

150,0 ± 0,2 mm

Dicke

350 ± 25 μm

Primäre flache Ausrichtung

[1-100]±5°

Primäre flache Länge

47,5 ± 1,5 mm

Zweitwohnung

Keiner

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5 mm * 5 mm)

≤5 μm (5 mm * 5 mm)

≤10 μm (5 mm * 5 mm)

Bogen

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Kette

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Rauheit der Vorderseite (Si-Fläche) (AFM)

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Struktur

Mikrorohrdichte

<1 ea/cm2

<10 ea/cm2

<15 ea/cm2

Metallverunreinigungen

≤5E10Atome/cm2

NA

BPD

≤1500 ea/cm2

≤3000 ea/cm2

NA

TSD

≤500 ea/cm2

≤1000 ea/cm2

NA

Vordere Qualität

Front

Si

Oberflächenbeschaffenheit

Si-Face-CMP

Partikel

≤60 Stück pro Wafer (Größe ≥ 0,3 μm)

NA

Kratzer

≤5ea/mm. Kumulierte Länge ≤Durchmesser

Kumulierte Länge ≤ 2 * Durchmesser

NA

Orangenschale/Kerne/Flecken/Streifen/Risse/Verunreinigung

Keiner

NA

Kantensplitter/Einkerbungen/Bruch/Sechskantplatten

Keiner

Polytypiebereiche

Keiner

Kumulierte Fläche ≤ 20 %

Kumulierte Fläche ≤ 30 %

Lasermarkierung vorne

Keiner

Zurück Qualität

Hinterer Abschluss

C-Gesichts-CMP

Kratzer

≤5ea/mm, Gesamtlänge≤2*Durchmesser

NA

Mängel an der Rückseite (Kantenabsplitterungen/Einkerbungen)

Keiner

Rückenrauheit

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Lasermarkierung auf der Rückseite

1 mm (ab Oberkante)

Rand

Rand

Fase

Verpackung

Verpackung

Epi-ready mit Vakuumverpackung

Verpackung für Multi-Wafer-Kassetten

*Hinweise: „NA“ bedeutet keine Anfrage. Nicht erwähnte Artikel beziehen sich möglicherweise auf SEMI-STD.

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SiC-Wafer

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